Podstatné vylepšení doznal elektronový mikroskop v laboratořích Cornell University. U transmisního elektronového mikroskopu prochází proud elektronů vzorkem a detektor určuje snížení intenzity. Vylepšený mikroskop má pod bodem dopadu elektronů celé pole detektorů, které umožní určit intenzitu i lomené, vychýlené a rozptýlené části paprsku. Získáme tak informace o rotacích a vibracích atomových vazeb, jejich polaritě a lokálních elektrických a magnetických polích. Detektorové pole vytváří plocha 128 x 128 polovodičových diod. Nazývá se EMPAD (electron microscope pixel array detector). Schéma fungování vylepšeného mikroskopu vidíme na obrázku (M.W.Tate et al., High Dynamic Range Pixel Array Detector for Scanning Transmission Electron Microscopy, Microsc. Microanal. 22, 237–249, 2016, doi:10.1017/S1431927615015664).
